X-Ray Optics and Microanalysis

Name: X-Ray Optics and Microanalysis
Brand: Springer, Berlin
SKU: 9780735407640
Price: 115.6 EUR
Availability: InStock

Proceedings of the 20th International Congress

Autor: Melissa A. Denecke, Clive T. Walker

Jazyk:

Väzba: Pevná

Vydavateľ: Springer, Berlin

Dostupnosť: 50 % šanca

Prehľadáme celý svet

115.60 €

ICXOM Series is a platform dedicated for reporting progress in fundamental and applied research in x...

Informácie o knihe

Autor

Melissa A. Denecke, Clive T. Walker

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Pevná

Vydalo

2010

Stránok

228

EAN

9780735407640

ISBN

0735407649

Enbook ID

01391302

Vydavateľ

Springer, Berlin

Hmotnosť

782

Rozmery

222 x 285 x 20

Kompletný popis

ICXOM Series is a platform dedicated for reporting progress in fundamental and applied research in x-ray optics and micro- and nano-analysis by means of x-ray beams (with an ICXOM20 emphasis on synchrotron sources), electrons or other energetic particles, including application examples, as well as methodological and instrumental developments.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

X-Ray Optics and Microanalysis

Proceedings of the 20th International Congress

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež