Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Name: Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781489989529
Price: 111.31 EUR
Availability: InStock

Autor: Mohammad Tehranipoor, Kemao Peng, Krishnendu Chakrabarty

Jazyk:

Väzba: Brožovaná

Vydavateľ: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 10-18 dní

111.31 €

This book introduces new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated c...

Informácie o knihe

Autor

Mohammad Tehranipoor, Kemao Peng, Krishnendu Chakrabarty

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Brožovaná

Vydalo

2014

Stránok

212

EAN

9781489989529

ISBN

9781489989529

Enbook ID

09161362

Vydavateľ

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnosť

361

Rozmery

155 x 235 x 235

Kompletný popis

This book introduces new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. It details effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež