Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Name: Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781441982964
Price: 106.02 EUR
Availability: InStock

Autor: Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty

Jazyk:

Väzba: Pevná

Vydavateľ: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa v malom množstve

Odosielame za 13-18 dní

106.02 €

This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrat...

Informácie o knihe

Autor

Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Pevná

Vydalo

2011

Stránok

212

EAN

9781441982964

ISBN

1441982965

Enbook ID

01424413

Vydavateľ

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnosť

518

Rozmery

155 x 235 x 17

Kompletný popis

This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež