Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 17-19, 2018, Proceedings

Autor: Xiao Bai, Edwin R. Hancock, Tin Kam Ho, Richard C. Wilson, Battista Biggio, Antonio Robles-Kelly

Jazyk:

Väzba: Brožovaná

Vydavateľ: Springer International Publishing AG

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 5-8 dní

50.08 €

This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntac...

Informácie o knihe

Autor

Xiao Bai, Edwin R. Hancock, Tin Kam Ho, Richard C. Wilson, Battista Biggio, Antonio Robles-Kelly

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Brožovaná

Vydalo

2018

Stránok

524

EAN

9783319977843

ISBN

3319977849

Enbook ID

19762418

Vydavateľ

Springer International Publishing AG

Hmotnosť

819

Rozmery

155 x 235 x 30

Kompletný popis

This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2018, held in Beijing, China, in August 2018. The 49 papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 75 submissions. They were organized in topical sections named: classification and clustering; deep learning and neurla networks; dissimilarity representations and Gaussian processes; semi and fully supervised learning methods; spatio-temporal pattern recognition and shape analysis; structural matching; multimedia analysis and understanding; and graph-theoretic methods.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 17-19, 2018, Proceedings

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež