Kniha Software Defect and Operational Profile Modeling, 1 ai-Yuan Cai

Software Defect and Operational Profile Modeling, 1

Autor: ai-Yuan Cai
Jazyk: Angličtina
Väzba: Brožovaná
Vydavateľ: Springer, Berlin
Dostupnosť: Skladom u dodávateľa v malom množstve
Odosielame za 13-18 dní
209.87
also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE , Volu...

Informácie o knihe

Autor
Jazyk
Angličtina
Väzba
Kniha - Brožovaná
Vydalo
2012
Stránok
268
EAN
9781461375593
ISBN
1461375592
Enbook ID
02016492
Vydavateľ
Hmotnosť
450
Rozmery
155 x 235 x 15

Kompletný popis

also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE , Volume 1

Mohlo by vás zaujímať

47.19

Fight to Finish

Calandra Wise
14.51
10.49
12.75

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Schnee

Alexander Lange Kielland
21.68
17.36