Kniha Semiconductor Characterization Techniques

Semiconductor Characterization Techniques

Jazyk: Angličtina
Väzba: Brožovaná
Vydavateľ: OmniScriptum
Dostupnosť: Skladom u dodávateľa
Odosielame za 8-11 dní
117.49

Informácie o knihe

Jazyk
Angličtina
Väzba
Kniha - Brožovaná
Vydalo
2026
Stránok
72
EAN
9786138759232
ISBN
6138759230
Enbook ID
52733908
Vydavateľ
Hmotnosť
125
Rozmery
150 x 220 x 5

Kompletný popis