Scanning Probe Microscopy

Name: Scanning Probe Microscopy
Brand: In Tech
SKU: 9789535105763
Price: 111.4 EUR
Availability: InStock

Physical Property Characterization at Nanoscale

Autor: Vijay Nalladega

Jazyk:

Väzba: Pevná

Vydavateľ: In Tech

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 10-13 dní

111.40 €

Scanning probe microscopy (SPM) is one of the key enabling tools for the advancement for nanotechnol...

Informácie o knihe

Autor

Vijay Nalladega

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Pevná

Vydalo

2012

Stránok

258

EAN

9789535105763

ISBN

9535105760

Enbook ID

24120415

Vydavateľ

In Tech

Hmotnosť

612

Rozmery

170 x 244 x 16

Kompletný popis

Scanning probe microscopy (SPM) is one of the key enabling tools for the advancement for nanotechnology with applications in many interdisciplinary research areas. This book presents selected original research works on the application of scanning probe microscopy techniques for the characterization of physical properties of different materials at the nanoscale. The topics in the book range from surface morphology analysis of thin film structures, oxide thin layers and superconducting structures, novel scanning probe microscopy techniques for characterization of mechanical and electrical properties, evaluation of mechanical and tribological properties of hybrid coatings and thin films. The variety of topics chosen for the book underlines the strong interdisciplinary nature of the research work in the field of scanning probe microscopy.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Scanning Probe Microscopy

Physical Property Characterization at Nanoscale

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež