Scanning Electron Microscopy

Name: Scanning Electron Microscopy
Brand: NY RESEARCH PRESS
SKU: 9781632384065
Price: 122.91 EUR
Availability: InStock

Autor: Lisa Page

Jazyk:

Väzba: Pevná

Vydavateľ: NY RESEARCH PRESS

Dostupnosť: 50 % šanca

Prehľadáme celý svet

122.91 €

Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments empl...

Informácie o knihe

Autor

Lisa Page

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Pevná

Vydalo

2015

Stránok

292

EAN

9781632384065

ISBN

163238406X

Enbook ID

12434612

Vydavateľ

NY RESEARCH PRESS

Hmotnosť

572

Rozmery

236 x 162 x 23

Kompletný popis

Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments employed in various science fields. SEMs are well instrumented and supplemented with advanced techniques and methods and thereby present endless possibilities in the areas of quantitative measurement of object topologies, surface imaging, performing elemental analysis and local electrophysical characteristics of semiconductor structures. Creation of micro and nanostructures involves extensive use of fine focused e-beam. This book focuses on various issues concerned with scanning electron microscopy, covering both theoretical and practical aspects. Numerous topics are organized under two sections, "Material Science" and "Nanostructured Materials for Electronic Industry". This book includes contributions by renowned researchers and experts in this field.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Scanning Electron Microscopy

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež