Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Name: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781493982691
Price: 97.9 EUR
Availability: InStock

Autor: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy

Jazyk:

Väzba: Brožovaná

Vydavateľ: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 8-11 dní

97.90 €

This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a...

Informácie o knihe

Autor

Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Brožovaná

Vydalo

2018

Stránok

550

EAN

9781493982691

ISBN

9781493982691

Enbook ID

22289975

Vydavateľ

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnosť

1498

Rozmery

277 x 209 x 33

Kompletný popis

This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) for elemental microanalysis, elec

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež