Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Name: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781461349693
Price: 92.72 EUR
Availability: InStock

Third Edition

Autor: Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman

Jazyk:

Väzba: Brožovaná

Vydavateľ: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 10-18 dní

92.72 €

An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the fie...

Informácie o knihe

Autor

Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Brožovaná

Vydalo

2013

Stránok

689

EAN

9781461349693

ISBN

1461349699

Enbook ID

02174794

Vydavateľ

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnosť

1310

Rozmery

255 x 182 x 43

Kompletný popis

An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described.§

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Third Edition

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež