Quantitative X-Ray Diffractometry

Name: Quantitative X-Ray Diffractometry
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781461395379
Price: 100.0 EUR
Availability: InStock

Autor: Giora Kimmel

Jazyk:

Väzba: Brožovaná

Vydavateľ: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 5-8 dní

100.00 €

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray dif...

Informácie o knihe

Autor

Giora Kimmel

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Brožovaná

Vydalo

2011

Stránok

372

EAN

9781461395379

ISBN

9781461395379

Enbook ID

06624110

Vydavateľ

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnosť

681

Rozmery

170 x 244 x 22

Kompletný popis

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. One of the great problems of the technique, however, is the fact that only the intensity of the diffraction pattern can be measured, not its phase. The inverse problem, of determining the structure from the pattern thus contains ambiguities that must be resolved by other means. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases. Invented in 1916, but little used at the time, the technique has seen a recent revival due to the development of extremely precise X-ray diffractometers coupled with powerful computers.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Quantitative X-Ray Diffractometry

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež