Noncontact Atomic Force Microscopy

Name: Noncontact Atomic Force Microscopy
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 9783642627729
Price: 199.78 EUR
Availability: InStock

Autor: E. Meyer, S. Morita, Roland Wiesendanger

Jazyk:

Väzba: Brožovaná

Vydavateľ: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 5-8 dní

199.78 €

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based...

Informácie o knihe

Autor

E. Meyer, S. Morita, Roland Wiesendanger

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Brožovaná

Vydalo

2012

Stránok

440

EAN

9783642627729

ISBN

9783642627729

Enbook ID

06617965

Vydavateľ

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Hmotnosť

692

Rozmery

155 x 235 x 25

Kompletný popis

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Noncontact Atomic Force Microscopy

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež