Nanometer Technology Designs

Name: Nanometer Technology Designs
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781441945594
Price: 100.0 EUR
Availability: InStock

High-Quality Delay Tests

Autor: Nisar Ahmed

Jazyk:

Väzba: Brožovaná

Vydavateľ: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 5-8 dní

100.00 €

Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new c...

Informácie o knihe

Autor

Nisar Ahmed

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Brožovaná

Vydalo

2011

Stránok

281

EAN

9781441945594

ISBN

1441945598

Enbook ID

01423022

Vydavateľ

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnosť

462

Rozmery

155 x 235 x 15

Kompletný popis

Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges. This book discusses these challenges in detail and proposes new techniques and methodologies to improve the overall quality of the transition fault test.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nanometer Technology Designs

High-Quality Delay Tests

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež