Kniha Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light Pierre-Richard Dahoo

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Jazyk: Angličtina
Väzba: Pevná
Dostupnosť: Skladom u dodávateľa v malom množstve
Odosielame za 11-15 dní
153.95
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors presen...

Informácie o knihe

Jazyk
Angličtina
Väzba
Kniha - Pevná
Vydalo
2016
Stránok
316
EAN
9781848219366
ISBN
1848219369
Enbook ID
13595194
Hmotnosť
618
Rozmery
167 x 241 x 24

Kompletný popis

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

Mohlo by vás zaujímať

11.16
13.61

Automated Reasoning

Viorica Sofronie-Stokkermans
79.86
134.45
17.63

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Parménides

César Aira
18.71