Multi-Chip Module Test Strategies

Name: Multi-Chip Module Test Strategies
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781461377986
Price: 99.69 EUR
Availability: InStock

Autor: Yervant Zorian

Jazyk:

Väzba: Brožovaná

Vydavateľ: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 5-8 dní

99.69 €

MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physica...

Informácie o knihe

Autor

Yervant Zorian

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Brožovaná

Vydalo

2012

Stránok

167

EAN

9781461377986

ISBN

9781461377986

Enbook ID

06623159

Vydavateľ

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnosť

369

Rozmery

195 x 260 x 10

Kompletný popis

MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. §Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. §Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2). §

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Multi-Chip Module Test Strategies

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež