MOS Interface Physics, Process and Characterization

Name: MOS Interface Physics, Process and Characterization
Brand: Taylor & Francis Ltd
SKU: 9781032106281
Price: 66.84 EUR
Availability: InStock

Autor: Shengkai Wang, Xiaolei Wang

Jazyk:

Väzba: Brožovaná

Vydavateľ: Taylor & Francis Ltd

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 9-15 dní

66.84 €

The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important compo...

Informácie o knihe

Autor

Shengkai Wang, Xiaolei Wang

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Brožovaná

Vydalo

2024

Stránok

162

EAN

9781032106281

Enbook ID

44702474

Vydavateľ

Taylor & Francis Ltd

Hmotnosť

453

Rozmery

152 x 229

Kompletný popis

The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental examples focusing on MOS and will be a reference for academics and postgraduates in the field of microelectronics.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

MOS Interface Physics, Process and Characterization

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež