Kniha Microelectronic Test Structures for CMOS Technology Manjul Bhushan

Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Jazyk: Angličtina
Väzba: Pevná
Dostupnosť: Skladom u dodávateľa
Odosielame za 10-18 dní
180.38
Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the ba...

Informácie o knihe

Jazyk
Angličtina
Väzba
Kniha - Pevná
Vydalo
2011
Stránok
373
EAN
9781441993762
ISBN
1441993762
Enbook ID
01424507
Hmotnosť
776
Rozmery
155 x 235 x 27

Kompletný popis

Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques for digital CMOS applications.

Mohlo by vás zaujímať

227.96
26.83
54.26

Taurus

Austin P Sheehan
9.72

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

13.85