Kniha Microelectronic Reliability Edward B. Hakim

Microelectronic Reliability

Jazyk: Angličtina
Väzba: Pevná
Dostupnosť: Skladom u dodávateľa
Odosielame za 9-15 dní
143.81
Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to...

Informácie o knihe

Jazyk
Angličtina
Väzba
Kniha - Pevná
Vydalo
1989
Stránok
396
EAN
9780890062845
ISBN
9780890062845
Enbook ID
05357936
Hmotnosť
750
Rozmery
152 x 229 x 25

Kompletný popis

Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought

Mohlo by vás zaujímať

17.69

Tongnaab

Jean Allman
33.12

Pioneers

Katharine Susannah Pritchard
10.31
136.44

Silverton

Gus Frederick
19.06

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

13.36

impero ottomano

Suraiya Faroqhi
14.74