Kniha Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 Kenneth P. Rodbell

Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

Jazyk: Angličtina
Väzba: Brožovaná
Dostupnosť: Skladom u dodávateľa
Odosielame za 9-15 dní
35.36
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for research...

Informácie o knihe

Jazyk
Angličtina
Väzba
Kniha - Brožovaná
Vydalo
2014
Stránok
514
EAN
9781107409484
ISBN
1107409489
Enbook ID
02439136
Hmotnosť
68
Rozmery
152 x 229 x 26

Kompletný popis

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Mohlo by vás zaujímať

Nemesis at Potsdam

Alfred M. de Zayas
46.07

Nietzsche in Turin

Jurgen Kleist
7.85
88.41

Flight Path

Hannah Palmer
12.37

1820

Malcolm Chase
97.84

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

26.02

La vida secreta de les pupes

MARIONA TOLOSA SISTERE
18.46

Lovec

Arne Dahl
17.32
23.37
10.80

Griezmann

Cyril Collot
16.69