Lifetime Spectroscopy

Name: Lifetime Spectroscopy
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 9783642064531
Price: 217.26 EUR
Availability: InStock

A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Autor: Stefan Rein

Jazyk:

Väzba: Brožovaná

Vydavateľ: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 10-18 dní

217.26 €

Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analy...

Informácie o knihe

Autor

Stefan Rein

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Brožovaná

Vydalo

2010

Stránok

492

EAN

9783642064531

ISBN

3642064531

Enbook ID

01651701

Vydavateľ

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Hmotnosť

874

Rozmery

155 x 28 x 32

Kompletný popis

Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Lifetime Spectroscopy

A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež