High-Resolution X-Ray Scattering

Name: High-Resolution X-Ray Scattering
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9780387400921
Price: 134.11 EUR
Availability: InStock

From Thin Films to Lateral Nanostructures

Autor: Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach

Jazyk:

Väzba: Pevná

Vydavateľ: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa v malom množstve

Odosielame za 11-15 dní

134.11 €

The book presents a detailed description of high-resolution x-ray scattering methods suitable for th...

Informácie o knihe

Autor

Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Pevná

Vydalo

2004

Stránok

408

EAN

9780387400921

ISBN

0387400923

Enbook ID

01382119

Vydavateľ

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnosť

860

Rozmery

155 x 235 x 22

Kompletný popis

The book presents a detailed description of high-resolution x-ray scattering methods suitable for the investigation of the real structure of single-crystalline layers and multilayers, including structure defects in the layers and at the interfaces. Particular attention is devoted to lateral structures in semiconductors and semiconductor multilayers such as quantum wires and quantum dots. Both the theoretical background and the application of the methods are discussed. The second edition is extended to deal with lateral surface nanostructures such as gratings and dots, new examples for measuring layer thickness, lattice mismatch, and surface/interface roughness. The book will be an invaluable source for graduates and scientists.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

High-Resolution X-Ray Scattering

From Thin Films to Lateral Nanostructures

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež