High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Name: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Brand: Taylor & Francis Ltd
SKU: 9780850667585
Price: 256.01 EUR
Availability: InStock

Autor: B. K. Tanner

Jazyk:

Väzba: Pevná

Vydavateľ: Taylor & Francis Ltd

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 14-21 dní

256.01 €

The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining t...

Informácie o knihe

Autor

B. K. Tanner

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Pevná

Vydalo

1998

Stránok

264

EAN

9780850667585

ISBN

9780850667585

Enbook ID

06695007

Vydavateľ

Taylor & Francis Ltd

Hmotnosť

656

Rozmery

178 x 263 x 20

Kompletný popis

The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research. It provides the background for applying these techniques.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež