High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

Name: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781441999757
Price: 106.26 EUR
Availability: InStock

Autor: Stephan Eggersglüß, Rolf Drechsler

Jazyk:

Väzba: Pevná

Vydavateľ: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa v malom množstve

Odosielame za 13-18 dní

106.26 €

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel tech...

Informácie o knihe

Autor

Stephan Eggersglüß, Rolf Drechsler

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Pevná

Vydalo

2011

Stránok

193

EAN

9781441999757

ISBN

1441999752

Enbook ID

01424651

Vydavateľ

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnosť

488

Rozmery

155 x 235 x 15

Kompletný popis

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež