Field Emission Scanning Electron Microscopy

Name: Field Emission Scanning Electron Microscopy
Brand: Springer Verlag, Singapore
SKU: 9789811044328
Price: 69.95 EUR
Availability: InStock

Autor: Nicolas Brodusch, Hendrix Demers, Raynald Gauvin

Jazyk:

Väzba: Brožovaná

Vydavateľ: Springer Verlag, Singapore

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 5-8 dní

69.95 €

This book highlights what is now achievable in terms of materials characterization with the new gene...

Informácie o knihe

Autor

Nicolas Brodusch, Hendrix Demers, Raynald Gauvin

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Brožovaná

Vydalo

2017

Stránok

137

EAN

9789811044328

ISBN

9811044325

Enbook ID

16018571

Vydavateľ

Springer Verlag, Singapore

Hmotnosť

252

Rozmery

240 x 159 x 13

Kompletný popis

This book highlights what is now achievable in terms of materials characterization with the new generation of cold-field emission scanning electron microscopes applied to real materials at high spatial resolution. It discusses advanced scanning electron microscopes/scanning- transmission electron microscopes (SEM/STEM), simulation and post-processing techniques at high spatial resolution in the fields of nanomaterials, metallurgy, geology, and more. These microscopes now offer improved performance at very low landing voltage and high -beam probe current stability, combined with a routine transmission mode capability that can compete with the (scanning-) transmission electron microscopes (STEM/-TEM) historically run at higher beam accelerating voltage

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Field Emission Scanning Electron Microscopy

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež