Viac ako 4 milióny titulov v angličtine aj ďalších jazykoch! Objavte svoj nový príbeh ešte dnes!

Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy

Name: Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 9781118456095
Price: 131.96 EUR
Availability: InStock

Autor: Budhika Mendis

Jazyk:

Väzba: Pevná

Vydavateľ: John Wiley & Sons Inc

Dostupnosť: 50 % šanca

Prehľadáme celý svet

131.96 €

A detailed presentation of the physics of electron beam-specimen interactions Electron microscopy is...

Informácie o knihe

Autor

Budhika Mendis

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Pevná

Vydalo

2018

Stránok

296

EAN

9781118456095

ISBN

9781118456095

Enbook ID

18210542

Vydavateľ

John Wiley & Sons Inc

Hmotnosť

610

Rozmery

160 x 238 x 18

Kompletný popis

A detailed presentation of the physics of electron beam-specimen interactions Electron microscopy is one of the most widely used characterisation techniques in materials science, physics, chemistry, and the life sciences.