Electromigration

Name: Electromigration
Brand: VDM Verlag Dr. Mueller E.K.
SKU: 9783639088137
Price: 47.43 EUR
Availability: InStock

Studied with the Optical Microscopy Imaging Method

Autor: Linghong Li

Jazyk:

Väzba: Brožovaná

Vydavateľ: VDM Verlag Dr. Mueller E.K.

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 9-15 dní

47.43 €

Electromigration is a microscopic phenomenon §involving electric field-induced diffusion, which is §...

Informácie o knihe

Autor

Linghong Li

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Brožovaná

Vydalo

2008

Stránok

EAN

9783639088137

ISBN

3639088131

Enbook ID

06817951

Vydavateľ

VDM Verlag Dr. Mueller E.K.

Hmotnosť

113

Rozmery

152 x 229 x 4

Kompletný popis

Electromigration is a microscopic phenomenon §involving electric field-induced diffusion, which is §very relevant to damage in interconnections. A §common method for monitoring interconnection §degradation is through electrical resistance §measurements, which requires direct electrical §contact. It is desirable to develop non-contact §methods to monitor electromigration damage §formation. In this thesis, we propose a novel §Optical Microscopy Imaging Method (OMIM), and we §provide a theoretical description and experimental §results. OMIM not only provides a new method for §studying electromigration, but also provides a §useful method for studying other micro-devices and §materials in a non- contact mode.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Electromigration

Studied with the Optical Microscopy Imaging Method

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež