Data Mining and Diagnosing IC Fails

Name: Data Mining and Diagnosing IC Fails
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9780387249933
Price: 99.76 EUR
Availability: InStock

Autor: Leendert M. Huisman

Jazyk:

Väzba: Pevná

Vydavateľ: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 10-13 dní

99.76 €

There are many techniques for analyzing IC fails. This book addresses the problem of obtaining maxim...

Informácie o knihe

Autor

Leendert M. Huisman

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Pevná

Vydalo

2005

Stránok

250

EAN

9780387249933

ISBN

9780387249933

Enbook ID

07184089

Vydavateľ

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnosť

576

Rozmery

155 x 235 x 19

Kompletný popis

There are many techniques for analyzing IC fails. This book addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Data Mining and Diagnosing IC Fails

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež