CMOS Test and Evaluation

Name: CMOS Test and Evaluation
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781493947027
Price: 126.8 EUR
Availability: InStock

A Physical Perspective

Autor: Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen

Jazyk:

Väzba: Brožovaná

Vydavateľ: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 5-8 dní

126.80 €

CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test a...

Informácie o knihe

Autor

Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Brožovaná

Vydalo

2016

Stránok

424

EAN

9781493947027

ISBN

1493947028

Enbook ID

14203439

Vydavateľ

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnosť

6613

Rozmery

155 x 235 x 23

Kompletný popis

CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology for CMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of embedded test structures and sensors, product yield, and reliability over the lifetime of the product. This book also covers statistical data analysis and visualization techniques, test equipment and CMOS product specifications, and examines product behavior over its full voltage, temperature and frequency range.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

CMOS Test and Evaluation

A Physical Perspective

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež