Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Name: Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Brand: Springer Science+Business Media
SKU: 9780306458965
Price: 162.47 EUR
Availability: InStock

Autor: Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell

Jazyk:

Väzba: Pevná

Vydavateľ: Springer Science+Business Media

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa v malom množstve

Odosielame za 13-18 dní

162.47 €

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first b...

Informácie o knihe

Autor

Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Pevná

Vydalo

1998

Stránok

430

EAN

9780306458965

ISBN

0306458969

Enbook ID

01378961

Vydavateľ

Springer Science+Business Media

Hmotnosť

1790

Rozmery

156 x 234 x 25

Kompletný popis

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first book ever published to feature photon, electron, and ion beam effects and beam damage to solids during surface and near-surface analysis and depth profiling. This introductory text describes the principles, techniques, and methods vital for efficient surface analysis. A wealth of practical information is assembled in this single volume, including summary tables, extensive references, and 251 illustrative figures.

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež