Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications

Name: Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 9780470638828
Price: 149.66 EUR
Availability: InStock

Autor: Greg Haugstad

Jazyk:

Väzba: Pevná

Vydavateľ: John Wiley & Sons Inc

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 9-15 dní

149.66 €

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface for...

Informácie o knihe

Autor

Greg Haugstad

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Pevná

Vydalo

2012

Stránok

496

EAN

9780470638828

ISBN

0470638826

Enbook ID

01388618

Vydavateľ

John Wiley & Sons Inc

Hmotnosť

850

Rozmery

155 x 243 x 32

Kompletný popis

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.§"Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com"

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež