Kniha Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2 Samuel H. Cohen

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

Jazyk: Angličtina
Väzba: Pevná
Dostupnosť: Skladom u dodávateľa v malom množstve
Odosielame za 13-18 dní
162.85
Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994

Informácie o knihe

Jazyk
Angličtina
Väzba
Kniha - Pevná
Vydalo
1997
Stránok
250
EAN
9780306455964
ISBN
030645596X
Enbook ID
01378792
Hmotnosť
1610
Rozmery
178 x 254 x 16

Kompletný popis

Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994

Mohlo by vás zaujímať

19.34

CA DAO Vietnam

John Balaban
12.37
38.40

Home for the Summer

Holly Chamberlin
15.71

Never Push An Elephant

William V Timmons
14.53

Gold

Chris Cleave
17.08

Badeaux Daze

Suzette Vaughn
9.71

Greatest Explorers

Robin Hanbury-Tenison
10.50
25.53

Dog Days

Olivier Perret
17.57

Immortal Peaches

Jeff Pepper
5.88
26.71
121.69

Fernweh

Monique H Van Den Dries
21.80

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Преступление и наказание

Федор Достоевский
13.64

Cartzzle - Der Kuss

David Boniffacy
10.21

Das Lied von Eis und Feuer 10

George Raymond Richard Martin
15.22
9.13