Advances in X-Ray Analysis

Name: Advances in X-Ray Analysis
Brand: Springer, Berlin
SKU: 9780306442490
Price: 95.13 EUR
Availability: InStock

Volume 35B

Autor: C.S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins

Jazyk:

Väzba: Pevná

Vydavateľ: Springer, Berlin

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 10-18 dní

95.13 €

The proceedings of the combined First Pacific-International Congress on X-Ray Analytical Methods (PI...

Informácie o knihe

Autor

C.S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Pevná

Vydalo

2012

Stránok

640

EAN

9780306442490

Enbook ID

01377984

Vydavateľ

Springer, Berlin

Hmotnosť

2760

Rozmery

175 x 250 x 41

Kompletný popis

The proceedings of the combined First Pacific-International Congress on X-Ray Analytical Methods (PICXAM) and Fortieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held in Hilo and Honolulu Hawaii, August 1991, comprise reports on the latest develo

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Advances in X-Ray Analysis

Volume 35B

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež