Advanced Test Methods for SRAMs

Name: Advanced Test Methods for SRAMs
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781489983145
Price: 99.0 EUR
Availability: InStock

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Autor: Girard, Patrick, PH.

Jazyk:

Väzba: Brožovaná

Vydavateľ: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnosť: Skladom u dodávateľa

Odosielame za 10-18 dní

99.00 €

Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SR...

Informácie o knihe

Autor

Girard, Patrick, PH.

Jazyk

Angličtina

Väzba

Kniha - Brožovaná

Vydalo

2014

Stránok

171

EAN

9781489983145

ISBN

9781489983145

Enbook ID

09062252

Vydavateľ

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnosť

297

Rozmery

155 x 235 x 235

Kompletný popis

Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SRAM), are presented in this comprehensive guide. New fault models are required for the latest very deep sub-micron (VDSM) technologies, and are outlined here.§

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Najčastejšie vyhľadávané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Advanced Test Methods for SRAMs

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Informácie o knihe

Kompletný popis

Mohlo by vás zaujímať

Zákazníci, ktorí si kúpili túto knihu, kúpili tiež