Failure Mechanisms in Semiconductor Devices

In dieser zweiten, aktualisierten Auflage identifizieren die Autoren die Ursachen und Mechanismen, die zu Ausf llen von Halbleiterbauelementen f hren. Durch Erkennungsmethoden und Technologien zur Vermeidung von Defekten, die in diesem Buch ausf hrlich beschrieben werden, wird die Zuverl ssigkeit der Bauelemente in der Praxis entscheidend bestimmt.